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JTAG

用語の解説

JTAGとは

(JTAG)

 ICチップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテストの標準方式、および、標準を定めた業界団体の名称。

 JTAG標準は、1985年にJoint European Test Action Group(JETAG:現JTAG)によって提案され、米国電気電子学会(IEEE)が1990年にIEEE std. 1149.1-1990「Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture」として標準化した。

 近年の電子部品は高密度化、パッケージ化、多ピン化が進み、従来のように端子にプローブを当てる検査が困難なほどに端子が小さく、端子間距離を短くしたものが主流となった。

 そのため、ICの検査方式の1つとしてチップ内部にプローブテストと同様の挙動を行なう「バウンダリスキャンボード」(あるいは「JTAGボード」)と呼ばれる端子およびレジスタを構成し、外部からテストコードを入力、それに対するICの挙動を調査するテストが広く行われている。

 これが「バウンダリスキャンテスト」(BST:Boundary Scan Test:境界走査試験)で、その標準を定めたものがJTAGである。

 JTAGに対応したICには、本来の機能を果たす回路のほかに、JTAGに対応した回路とTAP(Test Access Port)と呼ばれる5本の端子からなるインターフェイスを持ち、テストデータの入出力や制御に用いられる。

 JTAGにおけるバウンダリスキャンテストはテスト用ボード上で行われ、ボード上では検査するICのTAP端子をデイジーチェーン接続(数珠繋ぎ)し、複数のICを同時に検査することができる。

 最近ではJTAGはCPUを初めとする各種ICに採用され、検査やプログラムのデバックなどに必要な費用、時間の大幅な節約が可能となった。

用語解説出典   powered by. IT用語辞典 e-Words

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