光学トラッキング式3Dスキャンシステム「TRACKSCAN-Pシリーズ」を6/13より発売開始

CMM測定可能なマーカーレス3Dスキャンシステム

SCANTECHの日本正規代理店であるAPPLE TREE株式会社(所在地：大阪府大阪市/代表取締役社長:朴秀明)は光学トラッキング方式の3Dスキャンシステム「TRACKSCAN-Pシリーズ」の販売を2023年6月13日（火）に開始いたしました。本製品はハンディー型3Dスキャナーと光学式トラッカーで構成され、マーカーレスで高精度3Dデータを取得できます。



■光学トラッキング式3Dスキャンシステム「TRACKSCAN-Pシリーズ」： (リンク »)
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本製品は検査や寸法測定、リバースエンジニアリングなど、三次元測定が必要なさまざまな用途に対応できます。以下の3つのスキャンモードを瞬時に切り替えることが可能です。
・最大260万点/秒の高速スキャンモード：大型の対象物でも素早くスキャン可能
・最大解像度0.020mmの高解像度スキャンモード：細かい部分や表面の質感も鮮明に再現
・ディープホールスキャンモード：深穴や穴ピッチなど通常では難しい深さや間隔の計測も可能

さらに、プローブ(T-Probe)を活用することで、ワークのエッジ、円、スロットなどの特徴を高精度で取得できます。TRACKSCAN-Pの特徴は以下の通りです。

粉末スプレーなしで黒い物や光沢物もスキャン
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光源にブルーレーザーを採用しており、外部の光や熱などの影響（干渉）を受けにくいという特性を持っているため、反射率が低い黒色や光沢のある素材に対しても、粉末スプレーを使用することなくスキャンができます。また、屋外や工場内など、直射日光や熱変動が激しい環境下でも正確な計測を実現します。

最大16mまで広がる3Dスキャン空間
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M-TRACK光学式トラッカーが搭載されており、このトラッカーを増設することで、測定範囲を最大約16mまで拡張可能です。そのため、自動車や航空機、船舶などの大型の対象物に対してもスムーズにスキャンが可能です。

穴の形状を自動抽出
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補助光モジュール「i-hole」を取り付けることで、画像内の境界線を高精度で検出します。また、照明が均一化され、穴の形状を正確に抽出することが可能となります。この機能は、板金部品の精密測定など、さまざまな用途に利用できます。

狭い場所でも3D測定可能
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本製品に付属のポータブルCMM測定装置「T-Probe」を対象物の表面に直接当てるだけで高精度な形状データ(最高精度0.030mm)を取得できます。深穴や円形、スロットなどの狭いエリアも測定可能で、検査や寸法測定などの幅広い用途に対応します。

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TRACKSCAN-Pシリーズのスペック
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【会社概要】
会社名：APPLE TREE株式会社
所在地：大阪本社：〒541-0053 大阪府大阪市中央区本町4-3-9 本町サンケイビル 18階 Tel：06-6710-9061
東京支社：〒105-0012 東京都港区芝大門2-9-4VORT芝大門III9F Tel:03-6450-1163
設立：2012年10月
事業内容：3Dプリンター・3Dスキャナーの企画製造および販売
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プレスリリース提供：PR TIMES (リンク »)