Scantech Calibration CenterがISO／IEC 17025：2017認証を取得

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【杭州（中国）2022年5月13日PR Newswire＝共同通信JBN】3Dスキャナーの開発と販売を専門とする世界的な3D測定企業Scantechは、同社のCalibration/Certification Laboratory Center（CAL／CERT Center、校正・認証センター）がChina National Accreditation Service for Conformity Assessment（CNAS、中国合格評定国家認可委員会）から国際規格のISO/IEC 17025：2017認証を取得したと発表した。

中国のCNASからJJF1951-2021仕様（注1）（2022年6月28日に正式に実装される予定）のCMC（校正・測定機能）認定を受けた最初の企業校正研究所となることは非常に光栄である。

2020年に設立されたScantech Calibration Centerは今、ISO/IEC 17025：2017認定となった。これは、同センターが光学3Dスキャンの測定と校正で、国内仕様と国際規格に従って追跡可能な測定と校正を実行する技術的資格を持つことを示す。

これは、同社のハンドヘルド3Dスキャナー、グローバル3Dスキャナー、複合3Dスキャナー、光学追跡3Dスキャナー、自動3D測定システムの校正と受け入れ試験が、JJF1951-2021仕様とVDI/VDE2634規準（注2）に基づくことを意味する。これらの3Dスキャナー群には、完全に追跡可能で国際的に認められた精度証明書が付与される。

Scantech Calibration CenterのFale Fang所長は「ISO/IEC 17025：2017の認証は、長年の取り組みの成果だ。これは、Scantechの計測学分野専門スタッフの献身と貢献を示す」と述べた。

Scantechの品質管理システムはISO 17025：2017、ISO 9001：2015（注3）、ISO 14001：2015（注4）、ISO 45001：2018（注5）規格の認定を受けており、計測学分野の国際試験基準に全面的に依拠していることを示す。厳格な品質管理システムに加え、Scantechが製造したすべてのハンドヘルド3Dスキャナーは欧州基準適合（CE）マーク（注6）を取得している。

（注1）JJF 1951-2021：構造化照明に基づく光学3D測定システムの校正仕様
（注2）VDI/VDE 2634 Part3：2008光学3D測定システム：エリアスキャンに基づくマルチビューシステム VDI/VDE 2634 Part2：2012光学3D測定システム：エリアスキャンに基づく光学システム
（注3）品質管理システム（QMS）の要件を指定する国際規格
（注4）環境管理システム（EMS）の要件を指定する国際規格
（注5）労働安全衛生管理システム（OSHMS）の要件を指定する国際規格
（注6）商品が安全性、衛生、環境保護の要件に適合することを証明するマーク

▽Scantechについて
Scantechは3Dスキャナーの開発、製造、販売を専門とする。同社の自社開発商品はハンドヘルドレーザー3Dスキャナー、カラー3Dスキャナーから自動3Dスキャンソリューションまでそろっている。

ソース：SCANTECH