Tokyo, July 25, 2011 - ( JCN Newswire ) - 株式会社アドバンテストのグループ会社であるヴェリジーは7月7日(米国時間)、28nmテクノロジー・ノードおよびそれ以降の3Dデバイス・アーキテクチャおよび最先端半導体デザインに向けた、業界初のスケーラブルでコスト効率に優れたテスター・シリーズを発表しました。この新世代のテストシステムV93000 Smart Scale(TM)とピン・カードは、サンフランシスコのモスコーン・コンベンション・センター(Moscone Convention Center)で7月12日から14日まで開催されたSEMICON West のヴェリジーのブースで展示されました。
ヴェリジーの実績あるV93000プラットフォームと完全に適合するSmart Scaleシリーズは、先進的なパー・ピン機能を備えた革新的な「スマート」世代のテスターです。スマート・テストとは、各ピンがそれぞれ独自のクロック・ドメインで動作可能であり、テスト対象デバイスのデータ速度要求条件にクロックを正確に合わせることによって完全なテストを可能にすることを意味しています。電源供給の調整、ジッター注入、およびプロトコル・コミュニケーションなどの重要な機能との組み合わせにより、システム・ライク・ストレス・テストをATEレベルで実行可能となり、故障モデルのカバー範囲を拡大することができます。
アドバンテストのグループ会社ヴェリジーでSOCテスト担当の上級副社長を務めるハンス・ユリゲン・ワグナー(Hans Juergen Wagner)は、「革新的なV93000 Smart Scale次世代テストシステムとピン・カードにより、ヴェリジーは顧客のテスト・コストを抑え、顧客に適合したソリューションを提供可能なスマートなテスト手法を開発しました」と語っています。
Smart Scaleテスターの4つのクラス、A、C、SおよびLの各々は異なったサイズのテストヘッドを持ち、ユーザーの特殊なアプリケーションのそれぞれに対して最も効率的なソリューションを提供します。ワグナーは「テスターのクラスはお互いにシームレスに適合しているため、ICの量産規模が製品寿命期間中に変わった場合に、ユーザーはあるSmart Scaleクラスから別のクラスへと半導体デバイスを迅速かつ簡単に移動させることができます。このような柔軟性を提供する自動テスト装置のサプライヤはヴェリジーの他にありません」と付け加えています。
ヴェリジーのこのユニークなアプローチは、並列テストにおける試験能力を高めると同時に、最先端のシステム・オン・チップ(SOC)デバイス、システム・イン・パッケージ(SIP)デバイス、およびウェハー・レベル・チップ・スケール・パッケージ(WLCSP)をテストするための重要な性能要件であるウェハー・ソート試験での完全性能テスト・ソリューションを業界で初めて提供しています。
V93000 Smart Scaleテスターに加えて、ヴェリジーは3種類の新しいデジタル・チャネル・カードをリリースしました。Pin Scale 1600デジタルカードとPin Scale 1600-ME(Memory Emulation)カードは各デジタルチャネル上で業界最大クラスの機能を提供します。DCから1.6Gbpsまでのデータ速度(前世代までの速度の2倍)に加えて、これらのカードは従来のピン・カードの2倍または4倍のピン実装密度を備えています。この新しい高集積度で小さな形状のピン・カードには対称高速インタフェースのためのClock-Domain-Per-Pin(TM)、Protocol-Engine-Per-Pin(TM)、PRBS-Per-Pin、およびSmartLoop(TM)テスト機などが搭載されています。また、これらのカードは精密なDC供給能力を備えているのに加えて、優れたマルチサイト効率と同時試験のための非同期試験を実行することができます。
ヴェリジーの新しいPin Scale 9Gカードではアットスピード(at-speed)テストが可能です。最高8Gbpsのデータ速度とPin Scale 1600と同じパー・ピン多用途性を組み合わせることにより、このカードはアイドル状態のリソース数を最少化しながらピン使用率を最大に高めることができます。Pin Scale 9Gカードはすべてのピン上で双方向通信機能、シングルエンド・モードおよび差動モード通信機能を備えています。また、設計検証のための並列I/O試験から大量生産時のシリアル物理レイヤ(PHY)試験までをカバーする広範囲な試験ニーズに対応するためにパターン試験とパターンレス試験の両方を実行することも可能となっています。
アドバンテストグループのヴェリジーについて
ヴェリジーは設計検証、デバイス特性評価、量産向けテストなどで世界中の主要半導体メーカーで使用されている先進的な半導体テスト装置およびソリューションを提供しています。ヴェリジーは システム・オン・チップ(SoC)、高速メモリを含むフラッシュメモリ、DRAMさらにはマルチチップ・ パッケージ(MCP)などの広範囲かつ拡張性に富んだテスト・ソリューションを提供しています。ヴェリジーの最先端の解析ツールが、顧客がデザイン・デバッグおよび歩留まり改善プロセスの所要期間を短縮するのを支援します。アドバンテストグループであるヴェリジーに関する詳細情報はWebサイト www.verigy.com (リンク ») 、アドバンテストに関する詳細情報はWebサイト www.advantest.com (リンク ») をご覧ください。
※このプレスリリースに記載されている会社名、製品名は、各社の登録商標または商標です。
このプレスリリースに関する報道関係からのお問い合わせ先：
ヴェリジー株式会社
高山 元女(もとめ)
電話：042-631-8211
株式会社井之上パブリックリレーションズ
ヴェリジー広報担当 鈴木 孝徳
電話：03-5269-2301
E-mail: suzuki@inoue-pr.com
概要：ヴェリジー
ヴェリジーの実績あるV93000プラットフォームと完全に適合するSmart Scaleシリーズは、先進的なパー・ピン機能を備えた革新的な「スマート」世代のテスターです。スマート・テストとは、各ピンがそれぞれ独自のクロック・ドメインで動作可能であり、テスト対象デバイスのデータ速度要求条件にクロックを正確に合わせることによって完全なテストを可能にすることを意味しています。電源供給の調整、ジッター注入、およびプロトコル・コミュニケーションなどの重要な機能との組み合わせにより、システム・ライク・ストレス・テストをATEレベルで実行可能となり、故障モデルのカバー範囲を拡大することができます。
アドバンテストのグループ会社ヴェリジーでSOCテスト担当の上級副社長を務めるハンス・ユリゲン・ワグナー(Hans Juergen Wagner)は、「革新的なV93000 Smart Scale次世代テストシステムとピン・カードにより、ヴェリジーは顧客のテスト・コストを抑え、顧客に適合したソリューションを提供可能なスマートなテスト手法を開発しました」と語っています。
Smart Scaleテスターの4つのクラス、A、C、SおよびLの各々は異なったサイズのテストヘッドを持ち、ユーザーの特殊なアプリケーションのそれぞれに対して最も効率的なソリューションを提供します。ワグナーは「テスターのクラスはお互いにシームレスに適合しているため、ICの量産規模が製品寿命期間中に変わった場合に、ユーザーはあるSmart Scaleクラスから別のクラスへと半導体デバイスを迅速かつ簡単に移動させることができます。このような柔軟性を提供する自動テスト装置のサプライヤはヴェリジーの他にありません」と付け加えています。
ヴェリジーのこのユニークなアプローチは、並列テストにおける試験能力を高めると同時に、最先端のシステム・オン・チップ(SOC)デバイス、システム・イン・パッケージ(SIP)デバイス、およびウェハー・レベル・チップ・スケール・パッケージ(WLCSP)をテストするための重要な性能要件であるウェハー・ソート試験での完全性能テスト・ソリューションを業界で初めて提供しています。
V93000 Smart Scaleテスターに加えて、ヴェリジーは3種類の新しいデジタル・チャネル・カードをリリースしました。Pin Scale 1600デジタルカードとPin Scale 1600-ME(Memory Emulation)カードは各デジタルチャネル上で業界最大クラスの機能を提供します。DCから1.6Gbpsまでのデータ速度(前世代までの速度の2倍)に加えて、これらのカードは従来のピン・カードの2倍または4倍のピン実装密度を備えています。この新しい高集積度で小さな形状のピン・カードには対称高速インタフェースのためのClock-Domain-Per-Pin(TM)、Protocol-Engine-Per-Pin(TM)、PRBS-Per-Pin、およびSmartLoop(TM)テスト機などが搭載されています。また、これらのカードは精密なDC供給能力を備えているのに加えて、優れたマルチサイト効率と同時試験のための非同期試験を実行することができます。
ヴェリジーの新しいPin Scale 9Gカードではアットスピード(at-speed)テストが可能です。最高8Gbpsのデータ速度とPin Scale 1600と同じパー・ピン多用途性を組み合わせることにより、このカードはアイドル状態のリソース数を最少化しながらピン使用率を最大に高めることができます。Pin Scale 9Gカードはすべてのピン上で双方向通信機能、シングルエンド・モードおよび差動モード通信機能を備えています。また、設計検証のための並列I/O試験から大量生産時のシリアル物理レイヤ(PHY)試験までをカバーする広範囲な試験ニーズに対応するためにパターン試験とパターンレス試験の両方を実行することも可能となっています。
アドバンテストグループのヴェリジーについて
ヴェリジーは設計検証、デバイス特性評価、量産向けテストなどで世界中の主要半導体メーカーで使用されている先進的な半導体テスト装置およびソリューションを提供しています。ヴェリジーは システム・オン・チップ(SoC)、高速メモリを含むフラッシュメモリ、DRAMさらにはマルチチップ・ パッケージ(MCP)などの広範囲かつ拡張性に富んだテスト・ソリューションを提供しています。ヴェリジーの最先端の解析ツールが、顧客がデザイン・デバッグおよび歩留まり改善プロセスの所要期間を短縮するのを支援します。アドバンテストグループであるヴェリジーに関する詳細情報はWebサイト www.verigy.com (リンク ») 、アドバンテストに関する詳細情報はWebサイト www.advantest.com (リンク ») をご覧ください。
※このプレスリリースに記載されている会社名、製品名は、各社の登録商標または商標です。
このプレスリリースに関する報道関係からのお問い合わせ先：
ヴェリジー株式会社
高山 元女(もとめ)
電話：042-631-8211
株式会社井之上パブリックリレーションズ
ヴェリジー広報担当 鈴木 孝徳
電話：03-5269-2301
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概要：ヴェリジー
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