テクトロニクス、DPO70000SXシリーズ・オシロスコープの シリアル規格テスト・サポートを拡充

報道発表資料
2016年6月2日

テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、DPO70000SXファミリ超高性能オシロスコープによるシリアル・バス規格テストをサポートするための測定ソリューションを発表します。テクトロニクス特許の非同期タイム・インターリーブ（ATI）信号アクイジション技術を採用したDPO70000SXシリーズ・オシロスコープは、業界トップクラスの信号忠実度／性能、スケーラブルなアーキテクチャを備えており、今後も高速化が続く信号速度への対応を可能にしています。

急速に成長するクラウド・コンピューティング、モバイル・セグメントの新世代規格に対応するため、設計チームでは再現性が高く、正確な測定が可能な高速データ・レート信号の測定プラットフォームを必要としています。この要求に応えるため、テクトロニクスはDPO70000SXシリーズによるUSB3.1、Thunderbolt over USB Type-C、PCIe Gen4、あるいはDDRなどの第4世代規格のシリアル・バス規格サポートを実現しました。この新しいオシロスコープ・ファミリは、10Gbps以上の第4世代のシリアル・データ・レートにおいて、優れた信号忠実度により正確なマージン解析が行えます。

さらに、テクトロニクスは、DPO70000SXファミリに対して数多くのアプリケーション・ソリューションを用意しました。サーバ、データ通信、モバイルおよびディスプレイ・セグメントの物理層のコンプライアンス・テスト、特性評価とデバッグ用途に、50種類以上のソリューションが用意されています。第3、第4世代の規格に対応したソリューションには、自動テスト・セットアップ、実行、内蔵のレポート・オプション、詳細解析などの機能が含まれています。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Brian Reich）は、次のように述べています。「エンタープライズ・コンピューティングは第3世代から第4世代のシリアル規格に移行しています。テクトロニクスのお客様は、オシロスコープに対して優れた測定確度、スムーズな移行のためのサポート、柔軟な拡張性を求めています。DPO70000SXシリーズは、23GHzまたは33GHzをベースとしたスケーラブルなアーキテクチャにより、将来のニーズの高性能化にも対応できます。これによりエンジニアは、現在のテスト投資を維持しながら、50GHz以上の周波数帯域が必要になる次世代規格のテストにも対応できます」

DPO70000SXシリーズ・オシロスコープは、それまでのオシロスコープと比較して、高性能コンプライアンス／デバッグ・アプリケーションにおいて以下のような数多くの特長があります。

・広帯域、低ノイズのATI技術により、現在および将来の高速信号に対し、優れた信号忠実度と広い測定マージンを提供
・柔軟性の高いアーキテクチャにより、短時間にお客様の現場で23GHzから70GHzへの構成が可能
・業界トップクラスの25GHzエッジ・トリガ帯域により、高速信号が容易に取込み可能
・高確度の時間軸により、最新の高速規格における非常に正確なタイミング／ジッタ測定が可能
・設計の特性評価、問題点のデバッグのための高確度のタイミング測定を可能にする統合カウンタ／タイマ


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米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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