タカノ、5月31日から6月２日に開催される「JPCA Show（第52回国際電子回路産業展）」に出展

半導体製造工程向け各種検査装置 をご提案

タカノ株式会社(本社：長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野 準)は、2023年5月31日(水)～6月2日(金)に東京ビッグサイトで開催される「JPCA Show 第52回国際電子回路産業展」に出展いたします。
半導体の検査に欠かせない「半導体検査装置」。今回は、パッケージ基板向けの高さ検査装置デモ機を中心に半導体製造工程向け検査装置 を出展いたします。ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。



■注目の出展製品1. パッケージ向け全面高さ検査装置（ALTAX） デモ機出展
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半導体ウェーハ/パッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。
URL： (リンク ») ウェーハ向け検査装置　Thinspector（全面膜ムラ検査）　　パネル展示
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1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理が可能です。全面の膜厚測定と併せてムラ検査を実施するため、膜厚測定で良品レンジに埋もれてしまうレベルの僅かな膜厚差を検知することができます。URL： (リンク ») 3.ウェーハ向け検査装置　VCシリーズ パネル展示（深さ検査、2D検査、３D検査、透明膜測定）　
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低価格をコンセプトにしたディスクリート向け専用機をご提供いたします。最大8インチまでのウェーハ（Si、化合物）ならびに実装基板へ対応することができます。 従来装置の機能を維持したうえでタカノ製AI欠陥分類との併用により、貴社生産ラインでの生産の効率化を実現します。
URL： (リンク ») ウェーハ表面検査装置　WMシリーズ パネル展示
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ノンパターンウェーハにて高感度でのパーティクルの検出が可能です。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。ウェーハ検査、工程管理、研究開発等にてご使用いただけます。URL： (リンク ») ■「JPCA Show（第52回国際電子回路産業展）」開催概要開催日程：2023年5月31日(水)～6月2日(金)開催時間：10:00～17:00開催場所：東京ビッグサイト　東展示棟　　　　　タカノ株式会社 出展ブース番号: 2G-15公式HP： (リンク ») で入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。▽来場者事前登録サイトはこちら (リンク ») ■タカノについてばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品へ。タカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。【会社概要】会社名　： タカノ株式会社東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード：7885)所在地　： 長野県上伊那郡宮田村137代表者　： 代表取締役社長　鷹野 準創業　　： 1941年7月1日設立　　： 1953年7月18日URL　　 ： (リンク ») ： 事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品(画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売動画：ウェーハ検査装置のご紹介動画
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